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顏色檢測(cè):手持光譜儀可用于實(shí)時(shí)檢測(cè)汽車(chē)表面涂層的顏色和顏色一致性,確保生產(chǎn)批次間和不同部門(mén)制造的汽車(chē)涂層一致性。涂層厚度
基本原理:磁感應(yīng)涂層測(cè)厚原理基于涂層對(duì)磁場(chǎng)的影響,通過(guò)測(cè)量磁感應(yīng)信號(hào)來(lái)推斷涂層厚度。工作步驟:通過(guò)電磁感應(yīng)原理,在被測(cè)物
高精度: 能夠測(cè)量材料的厚度,具有較高的測(cè)量精度??焖贉y(cè)量: 可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量材料的厚度,提高工作效率。適用性廣: 可以
高純度膜層: 能夠制備高純度、均勻的薄膜。厚度均勻性: 能夠控制膜層的厚度均勻性。附著力強(qiáng): 產(chǎn)生的薄膜具有良好的附著力。
非接觸測(cè)量: 紅外測(cè)厚儀不需要接觸物體表面即可測(cè)量厚度,可避免對(duì)物體造成損壞。高精度: 具有較高的測(cè)量精度,可以滿足工業(yè)生
激光測(cè)厚儀是一種利用激光技術(shù)測(cè)量物體厚度的儀器。其工作原理基于激光傳感技術(shù),包括以下關(guān)鍵步驟:激光測(cè)厚儀的應(yīng)用:激光測(cè)厚
結(jié)構(gòu):影響因素: 總的來(lái)說(shuō),MBE技術(shù)控制精度高,適用于生長(zhǎng)特定厚度的薄膜,通過(guò)控制上述因素可以實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜生長(zhǎng)的精準(zhǔn)控制,同
ALD系統(tǒng)的工作原理基于對(duì)前體分子的交替進(jìn)料和反應(yīng),沉積出一層原子厚度的材料。ALD過(guò)程包括以下關(guān)鍵步驟:功能應(yīng)用綜上所述,AL
超聲波傳播:超聲波測(cè)厚儀利用超聲波傳播的原理測(cè)量材料的厚度。設(shè)備上的探頭發(fā)射超聲波脈沖,這些超聲波穿過(guò)被測(cè)材料并被材料內(nèi)
光學(xué)干涉技術(shù):應(yīng)用:薄膜測(cè)厚儀利用干涉技術(shù)能夠高精度地測(cè)量薄膜的厚度,用途廣泛,包括在科研、制造業(yè)和其他需要對(duì)薄膜層進(jìn)行
工作原理:應(yīng)用:射線式測(cè)厚儀的工作原理和應(yīng)用:射線式測(cè)厚儀利用X射線或伽馬射線的穿透能力來(lái)測(cè)量材料的厚度。它可以通過(guò)測(cè)量
X射線測(cè)厚儀的工作原理基于X射線穿透能力與材料厚度的關(guān)系。X射線穿透物質(zhì)的能力取決于物質(zhì)的密度和厚度。測(cè)量過(guò)程中,X射線源發(fā)
為您帶來(lái)高速度、高效率、高精度測(cè)厚體驗(yàn)的奧林巴斯72DL PLUS超聲測(cè)厚儀,現(xiàn)已面世。厚度測(cè)量達(dá)到實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量水平,堅(jiān)固耐用適用
微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?;赬-光熒光的涂層厚度和材料分
紫外分光光度計(jì),基于紫外可見(jiàn)分光光度法原理,利用物質(zhì)分子對(duì)紫外可見(jiàn)光譜區(qū)的輻射吸收來(lái)進(jìn)行分析的一種分析儀器。主要由光源、單色器、吸收池、檢測(cè)器和信號(hào)處理器等部件組成。發(fā)展歷史1852年,比爾(Beer)參考了布給爾(Bouguer)在1729年和朗伯(Lambert)在1760年所發(fā)表的文章,提出了分光光度的基本定律,即液層厚度相等時(shí)
高師傅是一名從事汽修行業(yè)30多年的老工程師了,每次周邊親戚朋友買(mǎi)二手車(chē)或者換車(chē),都要找他幫忙看看,這時(shí)候高師傅經(jīng)常會(huì)帶著他的"涂層洲厚儀"出場(chǎng)。因?yàn)樵趯?duì)汽車(chē)進(jìn)行車(chē)檢或者是評(píng)估汽車(chē)的使用狀況時(shí),需要通過(guò)用高精度涂層測(cè)厚儀檢測(cè)某個(gè)零部件的涂層厚度數(shù)值,再與其他的零部件進(jìn)行比較,結(jié)合其他相關(guān)使用數(shù)據(jù),就可以確
市場(chǎng)對(duì)通信設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求,加之汽車(chē)和其他行業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的日益依賴,正推動(dòng)線路板市場(chǎng)的快速增長(zhǎng)。在提高電子元件的產(chǎn)量和滿足更高質(zhì)量期望的同時(shí),企業(yè)正在尋求提高質(zhì)量的方法。使用合適的分析儀是此過(guò)程的重要環(huán)節(jié)。X射線熒光光譜(XRF)是一種廣泛用于測(cè)量鍍層厚度和成分的鍍層技術(shù),因?yàn)槠渚哂袩o(wú)
XRF分析是一項(xiàng)成熟的技術(shù),用于在整個(gè)行業(yè)范圍內(nèi)驗(yàn)證鍍層的厚度和成分。其基本的無(wú)損性質(zhì),加上快速測(cè)量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式儀器等優(yōu)點(diǎn),能實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)分析并立即得到結(jié)果。雖然XRF技術(shù)以簡(jiǎn)單易用而聞名,但與任何其他分析技術(shù)一樣,也有可能出錯(cuò)。錯(cuò)誤使用儀器可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果準(zhǔn)確性變差和工作流程效率變低。電鍍厚度驗(yàn)證也比其他
說(shuō)到元器件的真假,無(wú)非就是需要辨別一下,元器件是原裝貨還是散新貨。散新貨是指翻新件或是拆機(jī)件,是經(jīng)過(guò)處理再加工的器件。那么如何才能夠用同樣的價(jià)格購(gòu)買(mǎi)到全新的器件?本文通過(guò)介紹以下幾點(diǎn)幫助你選擇全新功能的器件:(1)看芯片表面是否有打磨過(guò)的痕跡;(2)看印字;(3)看引腳;(4)看器件生產(chǎn)日期和封裝廠標(biāo)號(hào);(5)測(cè)器件厚度和看器件邊沿。
磁感應(yīng)原理是利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來(lái)測(cè)定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。由于是電子儀器,校準(zhǔn)容易,可以實(shí)多種功能,擴(kuò)大量程,提高精度,由于測(cè)試條件可降低許多,故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。