微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
最大化精度，最小化浪費
當決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時，請選擇X-Strata920進行精確鍍層分析。
如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作，我們可提供適于您業(yè)務(wù)的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合金層）。
我們的內(nèi)部專家會對常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)進行測試測量，確保您獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。
X-Stata920提供四種基臺配置以適應(yīng)任意形狀的零件。帶有標準或?qū)捁潭ɑ_的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品臺，可自動測量多個樣品或單個組件上的各個位置。
為工作選擇正確的工具
通過選擇比例計數(shù)器或硅漂移探測器（SDD），可確保擁有正確配置。
比例計數(shù)器適用于大多數(shù)應(yīng)用場合，但對于含有少量種類元素的簡單鍍層結(jié)構(gòu)而言，其效果最佳。當您需要分析更復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)或需要測量非常薄的鍍層（<0.05μm）時，推薦使用SDD。
X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時通過避免過度電鍍造成的化學(xué)品浪費和減少電鍍不足造成的廢料和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務(wù)。這意味著您可確保在操作中最大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式，您將對結(jié)果的準確性充滿信心。
使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標準，如IPC4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。
日立邀請您參加SFChina 2020 中國國際表面處理展
日期：2020年12月8-10日
地點：廣州中國進出口商品交易會展館A區(qū)
日立展位號：5.1B47
我們的解決方案：我們的鍍層測厚儀、電子顯微鏡、白光干涉儀系列為從耐腐蝕和耐磨飾面到裝飾飾面涂層的各種應(yīng)用提供快速、無損檢測。
歡迎您來現(xiàn)場與我們進行面對面的交流。
