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“觸發(fā)”絕對稱得上數(shù)字示波器靈魂級的概念,如果沒有合適的觸發(fā)條件,波形觀測也無從談起。雖然很多工程師熟悉觸發(fā)功能,但只知其表不知其里。如何深入理解觸發(fā)呢?這篇ZDS示波器研發(fā)筆記分享給大家。示波器在使用
一個高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對于效率分析是非常關(guān)鍵的。那我們該如何準確測量開關(guān)損耗呢?開關(guān)損耗由于開關(guān)管是非理
2021年1月,煙臺市客戶報修問題:近期X射線突然關(guān)閉,同時報錯過熱。儀器類型:X射線鍍層測厚儀應(yīng)用背景知識:客戶是汽車配件生產(chǎn)企業(yè)。為了防止腐蝕,會在金屬部件表面電鍍或者噴涂鎳或者鋅。鍍層越厚防腐效果越好
HS-20是島津公司的一款頂空前處理分析儀器。在儀器使用過程中,我們需要定期對儀器進行維護。如果我們使用方法有誤,或者維護頻率不足,那么儀器的狀態(tài)會變差,甚至?xí)箦e。“進樣針堵塞”就是一個比較容易出現(xiàn)的錯
在無線世界中,射頻組件測試的需求是將產(chǎn)品推向市場的關(guān)鍵因素之一。設(shè)備越來越小,包含的組件越來越復(fù)雜。運用阻抗(或?qū)Ъ{)和反射/傳輸參數(shù)的理論知識,可以使射頻設(shè)備的性能達到最佳。濾波器、諧振器等射頻元件所
電力電子技術(shù)是一門使用電力電子器件對電能進行變換和控制的技術(shù)。器件是電力電子技術(shù)基礎(chǔ),變換控制是電力電子技術(shù)核心。經(jīng)典的電路拓撲設(shè)計、巧妙的控制策略無一不是電力電子人智慧的結(jié)晶。電機控制也是電力電子技
工程師在日常測試中,是否有遇到產(chǎn)品不穩(wěn)定經(jīng)常被干擾、偶發(fā)性問題又抓不到這樣的技術(shù)問題?例如時序的波動、幅值的跳變等。如何在連續(xù)不間斷的測試中抓捕并記錄這些跳變信號,提升產(chǎn)品品質(zhì)?本文給出答案。波形數(shù)據(jù)
偶發(fā)性異常問題幾乎存在于各行各業(yè),本文將以新能源汽車中常見的繼電器為例來說明大數(shù)據(jù)分析如何解決偶發(fā)性異常問題。偶發(fā)性異常的出現(xiàn)繼電器、接觸器、連接器等在電路中起著自動調(diào)節(jié)、安全保護、轉(zhuǎn)換電路、連接電路
隨著科技的發(fā)展,補充醫(yī)學(xué)的金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 技術(shù)已經(jīng)具備了許多生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用所需的高級成像能力,但它可以代替價格昂貴的sCMOS(科學(xué)CMOS)傳感器嗎?CMOS與 sCMOS傳感器為數(shù)個行業(yè)中機器視覺的性能及價值
一位資深的維修技術(shù)人員很少依靠一次測試的通過或失敗,就判斷機器或組件的好壞。在他們打開工具箱之前,他們會對聆聽或觸摸,感覺電機周圍的氣流。下一步,他會使用紅外測溫搜索熱點,使用鉗形表檢查電流大小。檢查
回想2020這一年,紅外熱像儀是我們的生產(chǎn)生活中,不可或缺的一部分,眾所周知,紅外熱像儀是檢測人體表溫度升高的有效篩查工具。那么它是如何做到的呢?紅外成像技術(shù)工作原理紅外熱像儀生成能顯示細微溫差的紅外圖像
1、交調(diào)失真的意義 非線性DUT(例如LNA、PA、塔放),當輸入多個頻率的信號時,各個頻譜分量之間會產(chǎn)生互相作用,產(chǎn)生新的頻譜分量(頻譜再生);當輸入信號足夠小放大器工作在線性區(qū),交調(diào)失真不會惡化,保持在一個
隨著移動通信技術(shù)的飛速發(fā)展,5G憑借著高速率、低時延、高移動性等諸多優(yōu)勢,逐漸進入社會的各個角落,與每個人緊密相連。而由于5G引入了天線陣列、波束賦形等技術(shù)使得終端設(shè)備的日益復(fù)雜化,終端的研發(fā)與認證對于測
1、什么是垂直分辨率?數(shù)字示波器的垂直分辨率是衡量示波器將電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字量的精細程度的重要指標,主要由所用ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)的分辨率決定。ADC按照固定的電壓間隔對模擬信號進行量化,從而將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)
案例分析:Muller Martini AG,印刷加工系統(tǒng)專家在開發(fā)裝訂雜志用的新型馬鞍訂書機的過程中,印刷裝訂機領(lǐng)域的全球性企業(yè)Muller Martini AG發(fā)現(xiàn)傳感器出現(xiàn)了故障,并且使用MSR的微型三軸加速度數(shù)據(jù)記錄儀確定了故障
探測DDR信號會面臨測試點選擇的挑戰(zhàn),根據(jù)JEDEC規(guī)范的定義,所有測量均應(yīng)在存儲芯片的輸出引腳上進行。之所以面臨挑戰(zhàn),是因為很多場合無法訪問存儲芯片的引腳。我們有時會選擇使用插入器(Interposer),但即使這樣