DDR應(yīng)用現(xiàn)狀
隨著近十年以來智能手機(jī)、智能電視、AI技術(shù)的風(fēng)起云涌，人們對(duì)容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的需求不斷提高，DDR SDRAM也不斷地響應(yīng)市場的需求和技術(shù)的升級(jí)推陳出新。
目前，用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已經(jīng)演進(jìn)到了DDR5了，但市場上對(duì)經(jīng)典的DDR3 SDRAM的需求仍然比較旺盛。
測(cè)試痛點(diǎn)
測(cè)試和驗(yàn)證電子設(shè)備中的DDR內(nèi)存，客戶一般面臨三大難題：
1.如何連接DDR內(nèi)存管腳；
2.如何探測(cè)和驗(yàn)證突發(fā)的讀寫脈沖信號(hào)；
3.配置測(cè)試系統(tǒng)完成DDR內(nèi)存一致性測(cè)試。
泰克測(cè)試方案
為解決研發(fā)人員在DDR內(nèi)存系統(tǒng)研發(fā)、調(diào)試和驗(yàn)證測(cè)試的難題，推薦配置基于MSO64B示波器的內(nèi)存調(diào)試及一致性測(cè)試系統(tǒng)，主要功能如下：
1.完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規(guī)范測(cè)試的項(xiàng)目
2.自動(dòng)實(shí)現(xiàn)突發(fā)Write/Read信號(hào)分離，可以在同一次采集數(shù)據(jù)中完成參數(shù)測(cè)試；
3.對(duì)控制器端可以自定義修改電平門限，適用不同存儲(chǔ)接口的設(shè)計(jì)；
4.支持CMD總線解碼，更加直觀的反應(yīng)內(nèi)存總線讀寫時(shí)序；
5.同時(shí)兼顧標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試和單項(xiàng)調(diào)試，可以用于產(chǎn)品調(diào)試和驗(yàn)證環(huán)節(jié)；
6.自動(dòng)生成一致性測(cè)試報(bào)告，匯總測(cè)試數(shù)據(jù)和關(guān)鍵波形截圖
7.TDP77系列三模探頭，提供DDR測(cè)試專用FLEXB柔性連接附件，針對(duì)DDR芯片/顆粒狹小空間設(shè)計(jì)，配合Interposer完成各種類型DDR芯片的信號(hào)連接
系統(tǒng)中的MSO6B示波器是全新一代高精度/多通道信號(hào)采集與分析設(shè)備，具有12bits高分辨率ADC，uV級(jí)的本底噪聲和50Gs/s高采樣率，準(zhǔn)確捕獲和分析DDR讀寫和控制信號(hào)FlexChannel技術(shù)通過TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉(zhuǎn)變?yōu)?路數(shù)字通道，實(shí)現(xiàn)數(shù)字通道測(cè)試。
方案優(yōu)勢(shì)
使用泰克DDR測(cè)試系統(tǒng)，工程師可以享受到如下便利：
1.無需參考復(fù)雜的JEDEC規(guī)范，快速測(cè)試關(guān)鍵指標(biāo)系統(tǒng)參數(shù)，找到系統(tǒng)潛在風(fēng)險(xiǎn)；泰克提供與JEDEC聯(lián)合發(fā)布的測(cè)試MOI，指導(dǎo)使用者輕松完成信號(hào)連接、儀器設(shè)置與全自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試。
2.通過探頭可以將系統(tǒng)工作時(shí)的波形準(zhǔn)確的采集下，提供最直接最深入的信號(hào)接口時(shí)序/幅度信息，無需設(shè)置特定的測(cè)試場景；
3.對(duì)特殊場景下DDR/LPDDR的應(yīng)用提供測(cè)試能力，可以確保系統(tǒng)性能的前提下找到芯片工作的極限條件；
4.無需人工進(jìn)行READ/WRITE的區(qū)分，全自動(dòng)軟件判斷，或者通過CMD總線進(jìn)行聯(lián)合調(diào)試，發(fā)現(xiàn)潛在的時(shí)序風(fēng)險(xiǎn)；
核心技術(shù)指標(biāo)
1. 模擬通道數(shù)：不小于4通道
2. 帶寬：不低于8GHz
3. 最高采樣率：不小于50Gs/s
4. 垂直分辨率：不小于12bits（硬件，非軟件實(shí)現(xiàn)）
5. 數(shù)字通道數(shù)：可支持32路數(shù)字通道
6. 本底噪聲 (50Ω阻抗，4GHz，1mV/div，RMS) ：不大于100μV
7. 可視化觸發(fā)：支持20個(gè)用戶繪制區(qū)域的軟件觸發(fā)
8. 支持DDR3分析與調(diào)試功能，支持用戶定義DDR速率
9. 支持自動(dòng)DDR3一致性測(cè)試功能
10. 支持limit極限測(cè)試，支持用戶自定義極限；支持自定義測(cè)試循環(huán)次數(shù)
11. 提供4只帶寬不小于1GHz，電容不大于4pF無源高阻探頭
