PCIe官方組織PCI-SIG協(xié)會在2020年2月27日發(fā)布了PCIe Gen5的首版Phy Test Spec規(guī)范V0.3，其中列舉了PCIe Gen5的System和Addin Card物理層測試所需的測試項，特別需要強調(diào)的是，規(guī)范明確指出PCIe Gen5 System發(fā)送端測試將不再使用雙端口（Dual-port）的方式進行，不再需要將data和clock同時接入示波器進行測試！

規(guī)范原文: “Dual-port method wher clock and data is captured simultaneously will no longer be supported for 32GT/s.”

這就意味著，PCIe Gen5測試只需要將數(shù)據(jù)單獨接入示波器進行測試，只需要用到兩個高帶寬通道即可，而不是像某儀器廠商臆測并大肆宣傳的那樣必須使用4通道50GHz示波器才能進行Gen5測試！這對廣大PCIe5設(shè)計者來說無疑是一個福音，升級設(shè)備所需預(yù)算大幅降低，Gen5測試變得觸手可及。

什么叫Dual-port測試方法?

這種測試方法最早提出是在PCIe Gen2。為了測試System而專門引入的 - Addin Card則一直都只需要采集Data即可。Dual-Port測試的時候需要將數(shù)據(jù)和時鐘同時引入示波器中，然后用Intel提供的測試工具Sigtest進行分析，得到最終測試結(jié)果。

Sigtest使用規(guī)范要求的最小/最大的鎖相環(huán)帶寬&Peaking , 將100MHz Clock倍頻到與Data同速率（如5GHz/8GHz/16GHz），然后應(yīng)用不同的相位對齊參數(shù)將Data對齊倍頻后的Clock，計算出所有這些組合里最惡劣的眼圖和抖動指標(biāo)。

Dual-Port在最新Gen5中被移除?

PCIe Gen2引入Dual-Port測量方法在當(dāng)時是有其現(xiàn)實意義的，這種測試也延續(xù)到了Gen3和Gen4，但隨著技術(shù)的發(fā)展，這種設(shè)計在Gen5已經(jīng)不再有價值，因此在最新的Gen5 Phy Test Spec中被移除。規(guī)范做出這個決定是經(jīng)過討論研究后慎重決定的，我們挑其中的兩點原因來簡單談?wù)?

1、PCIe Gen2  CDR能力有限，對于33KHz-2MHz范圍內(nèi)的低頻抖動 (典型例子就是SSC擴頻時鐘)的抑制能力很弱。對于帶SSC的System待測物，需要將數(shù)據(jù)和時鐘同時捕獲、互相參考才能得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果。而到了Gen5，無論是Common Clock還是SRIS架構(gòu)都可以很好的抑制低頻抖動，不再需要參考System提供的100MHz時鐘。

2、PCIe2 Gen2的時鐘規(guī)范是很寬松的，其抖動有效值小于3.1ps即可。如果System提供的100MHz參考時鐘較差，數(shù)據(jù)參考時鐘后測出的眼圖和抖動也會較差，因此在評估Data信號質(zhì)量時同時采集并對齊100MHz參考時鐘就很有必要。而到了Gen5，對Clock的品質(zhì)要求大大提高，時鐘抖動有效值要求低至0.15ps，近乎理想時鐘。數(shù)據(jù)眼圖和抖動測量時使用參考時鐘或使用軟件算法時鐘已經(jīng)沒有什么區(qū)別了，只需對時鐘進行單獨的測量以確保其品質(zhì)就可以了。

除了只需要兩通道就可以測量PCIe5這一大好消息之外，V0.3版PCIe Phy Test Spec 還明確列舉了Gen5的測試項，這些測量項的定義和Gen4相比沒有什么大的改變。

Electrical Compliance, Preset, Transmitter / Receiver Lin Equalization, 以及Addin Card專屬的Pulse Width, Initial TxEQ, PLL Bandwidth等測量項都在Gen5里繼承下來了。

規(guī)范中還提到了一些新的變化，比如AC based Preset測試方法，將取代Gen1-4所使用的DC based測量方法；新的System/Addin Card接收機校準(zhǔn)流程后續(xù)將會推出, Gen5測試夾具的詳細(xì)規(guī)格指標(biāo)后續(xù)將會推出。

泰克PCIe物理層規(guī)范測試方案

泰克科技擁有業(yè)內(nèi)完備的PCIe物理層規(guī)范測試方案，一直是行業(yè)內(nèi)的佼佼者。早在2019上半年，泰克專家Dan Froelich曾在TIF和開放實驗室系列活動中，已經(jīng)為中國廣大的客戶普及了PCIe Gen5測試的概念和初步方法。

泰克科技公司旨在緊隨PCIe技術(shù)發(fā)展的進程，同步發(fā)布相關(guān)的測試方案，力求為客戶提供正確、及時的測試測量手段，確保順利進行PCIe一致性測試及調(diào)試。

注：Dan Froelich和David Bouse曾是Intel在PCI-SIG的重要代表，Dan Froelich是PCI-SIG 測試規(guī)范制定工作組Serial Enabling Workgroup 前主席, David Bouse是PCIe Gen4 PHY Test Spec的第一作者。