當(dāng)電子元件發(fā)生故障時(shí)，有兩種情況：一是短路，短路時(shí)電流較大，元件較熱，其紅外線輻射量大，此時(shí)熱成像較正常是紅外成像變化很大；二是當(dāng)元件斷路（接觸不良）時(shí)，流過元件的電流值幾乎為零，所以，元件溫度較正常工作時(shí)低，幾乎沒有紅外輻射，此時(shí)，熱成像與正常時(shí)熱成像差別較大。利用這一原理很容易的就判斷出電子電路故障點(diǎn)。

紅外熱成像為測試人員提供了一種獨(dú)特的IC測試方法，通過一次紅外掃描成像，即可獲取板上每個(gè)IC的功耗值，并變成可視信息供測試人員進(jìn)行故障診斷。

太陽能逆變器驅(qū)動電路板檢測實(shí)例

熱像儀能提供清晰的電路板溫度場分布的圖像和準(zhǔn)確的溫度測量。

同一塊電路板的器件應(yīng)盡可能的按其發(fā)熱量大小及散熱程度分區(qū)排列，采用合理的器件排列方式，可以有效的降低印制電路的溫升，從而使器件及設(shè)備的故障率明顯下降。 

熱像儀可以通過提供的紅外熱圖，幫助工程師分析出整塊線路板的溫度分布，完善工程師的設(shè)計(jì)和應(yīng)用。 

電子元件工作的穩(wěn)定性與老化速度是和環(huán)境溫度息息相關(guān)的。每當(dāng)環(huán)境溫度升高10℃時(shí)，主要功率元件的壽命減少50％，這就要求電子元器件應(yīng)該工作在相對穩(wěn)定和較低的溫度范圍內(nèi)。 熱像儀可以提供給工程師電路中各元器件的工作時(shí)發(fā)熱情況熱圖，幫助工程師分析元器件對整個(gè)電路溫度的影響，同時(shí)也能夠幫助工程師選擇合適負(fù)載能力的轉(zhuǎn)換模塊。