自動化測試如今已不再是產(chǎn)測的專屬議題。隨著芯片的集成與電子產(chǎn)品的多功能導(dǎo)向發(fā)展，混合模擬、射頻與數(shù)字信號的測試增加了系統(tǒng)驗證與測量的復(fù)雜度。
縱然產(chǎn)品的功能性驗證與可靠度測試都可通過更多的自動化以有效縮短測試周期，真正的挑戰(zhàn)卻在自動化的實踐過程卻往往需要工程團隊里的人才既懂軟件控制集成又要專精電子測量。
對此，NI在2022年開啟芯片驗證與電子測量自動化技術(shù)論壇，并在深圳站、成都站的活動中廣受好評?，F(xiàn)在，第三站也來啦~
此次論壇將帶您探索，如何有效利用軟件框架，借力使力更輕松地將自動化于實驗室中落地。討論主題橫跨從fA級的高精度DC測量、車規(guī)MCU可靠度到前瞻毫米波的B5G、6G技術(shù)；同時在技術(shù)議題上，深入淺出射頻測試上EVM的優(yōu)化與高精度ADC測試技術(shù)。對于電子測量最新技術(shù)和提升測試效率感興趣的您絕不容錯過，現(xiàn)場除了專家講座外也將有實機演示。
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