虹科-萬片電容老化失效測試系統(tǒng)

系統(tǒng)介紹

該系統(tǒng)主要用于電容老化測試，通過給電容施加電壓，同時同時施加高溫和高濕的環(huán)境，來加速電容的老化，測試電容的可靠性。系統(tǒng)采用模塊化設計，支持通道擴展，并且針對每一個電流通道都單獨實現(xiàn)監(jiān)測和控制斷開的功能，保證系統(tǒng)在其中某一個電容失效（短路）的時候不影響其他的通道。系統(tǒng)適合進行大規(guī)模的測試，一次的測試容量可達幾萬片，因此采用了多電源供電的方式，可選的電源擴展規(guī)模，能支持多路電源，即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同，從而實現(xiàn)了同一次長時間加熱加濕的過程中測試多種規(guī)格的電容。極大提升測試效率。

主要功能

1. 系統(tǒng)主要用于電容的老化測試

2. 系統(tǒng)提供高低溫和濕度環(huán)境。

3. 系統(tǒng)支持一次測試中提供多組可調電壓值，且每一路電壓可以程控輸入到任意一組電容上。

4. 系統(tǒng)可以實現(xiàn)對每一路的電流進行監(jiān)控，當電容失效電流超限時可報警或者自動斷開該路，不影響其他路的測試。

5. 電流監(jiān)控可以自定義閾值。

6. 系統(tǒng)配備LED面板，試試顯示每一路的失效情況。

7. 系統(tǒng)預留TCP通訊接口，可以實現(xiàn)通過TCP遠程控制和獲取測試數(shù)據(jù)。

8. 系統(tǒng)可以自動化測試并且生成測試報告。

9. 系統(tǒng)配備高阻儀，可以檢測檢測每一路的電容對應的阻值。

10. 測試通道可擴展，能達到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試，極大提升測試效率。

系統(tǒng)組成

為了達到靈活的電源配置，我們采用了基于LXI的大規(guī)模矩陣，可以實現(xiàn)電源和測試設備到電容組的任意路由，同時采用了虹科電流監(jiān)控模塊，可以同時監(jiān)測上千個通路的電流，并且實現(xiàn)閾值的自定義和自動切斷NG短路的被測件，保證系統(tǒng)在有短路的情況下仍然可以正常運行測試。

核心設備

1、基于LXI總線的大規(guī)模矩陣 ：利用矩陣實現(xiàn)電源和高阻儀的信號路由

2、虹科電流監(jiān)控模塊：實時監(jiān)控每一路的電流，擁有自定義閾值報警和可配置的超過閾值自動切斷的功能

3、可定制的測試軟件：具備了通訊，自動化測試，報表生成，測試管理，人機接口等功能

關于虹科測試測量

虹科是一家在測試測量行業(yè)經(jīng)驗超過10年的高科技公司，虹科與世界知名的測量行業(yè)巨頭公司Marvin Test以及Pickering Interface合作多年，提供領域內頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺的多種功能模塊，以及自動化測試軟件平臺和測試系統(tǒng)。事業(yè)部所有成員都受過國內外專業(yè)培訓，并獲得專業(yè)資格認證，所有工程師平均5年+技術經(jīng)驗和水平一致贏得客戶極好口碑。我們積極參與行業(yè)協(xié)會的工作，為推廣先進技術的普及做出了重要貢獻。至今，虹科已經(jīng)為全國用戶提供了100+不同的解決方案和項目，并且獲得了行業(yè)內用戶極好口碑。